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碳矽分析儀過冷現象處理

更新時間:2020-09-15      點擊次數:2498

 

用戶使用測定儀(yi) 測量鐵水成份(CE,C%,SI%)過程中,有時會(hui) 發生過冷現象,表現為(wei) 鐵水在凝固過程中共晶凝固階段鐵水溫度發生回升,冷卻曲線表現為(wei) 共晶平台在溫度下降到低點後上升然後再下降。

當發生過冷現象時,顯示屏幕上顯示“測定不良”並閃爍,一般不顯示C%,SI%測量結果,有時碳當量CE也不顯示。過冷異常產(chan) 生時儀(yi) 器硬件本身沒有問題,它是由樣杯內(nei) 用來測定的鐵水的性質決(jue) 定的,從(cong) 凝固的角度來講,是樣杯內(nei) 的鐵水不是*白口凝固,凝固時有石墨產(chan) 生,要消除過冷異常也要從(cong) 此角度查

找原因並采取相應措施,操作上主要注意以下幾個(ge) 方麵:

如果以上幾方麵經檢查沒有問題,還有一個(ge) 可能的原因是鐵水的雜質成份過高造成的,這些雜質成份有些有反白口化作用,有些會(hui) 抵消碲的作用,這些元素如鋁,鉻等,具體(ti) 到每個(ge) 用戶還需要具體(ti) 分析。

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